ПОРЯДОК ВЫПОЛНЕНИЯ РАБОТЫ 1. Включить установку. Прогреть установку 10-15 минут. Установить кратность пересчета х64. Медленно увеличивать высокое напряжение до величины, указанной на приборе. 2. Получить препарат №13. Поместить препарат под счетной трубкой. 3. Закрыть обе половины препарата экранами и измерить число импульсов. 4. Убирая по очереди экраны, а затем и оба вместе, измерить количество импульсов N1, N2, N1,2 каждое измерение производить в течение 30минут. 5. Вычислить скорости счета п01,2, п1, п2, п1,2 в имп/сек, затем по формуле (2.21) определить мертвое время счетчика τ. Так как в формулу (2.21) входит малая величина - разность (п1+п2)-(п1,2-п01,2), то для получения надежного результата опыта измерения скоростей п1, п2, п01,2, п1,2 нужно производить с большой точностью. Только этим и объясняется требование к продолжительной экспозиции.
Эффект самопоглощения (самоослабления) заключается в том, что некоторое количество испускаемых радионуклидами бета-частиц поглощается и рассеивается в веществе самого образца, не доходя до его поверхности. Поэтому регистрируемая счетчиком в пределах данного телесного угла Ω скорость счета N будет занижена по сравнению с той скоростью счета N0, которая бы регистрировалась при отсутствии самопоглощения в образце (при прочих равных условиях измерения).
Необходимо отметить, что ослабление бета-излучения в веществе радиоактивного образца является сложной комбинацией эффектов самопоглощения и саморассеяния. Кривая самопоглощения 1 учитывает не только истинное поглощение бета-частиц в веществе образца в результате полной потери ими своей энергии, но и их рассеяние в веществе образца, приводящее к изменению потока частиц в данном телесном угле счетчика.
Поправка на самопоглощение. Для учета эффекта самопоглощения вводят коэффициент самопоглощения S. Коэффициент самопоглощения S – это отношение скорости счета образца данной толщины d к скорости счета непоглощающего образца. Если обозначить соответствующие скорости счета после введения поправок на мертвое время и фон через N и N0, то коэффициент самопоглощения
S = N/N0. (1)
По экспериментальному графику, аналогичному рис. 44, для любой толщины образца d можно найти значение коэффициента S как отношение ординат соответствующих точек на кривой 1 и прямой 2. Если величина коэффициента самопоглощения S в идентичных условиях опыта известна, то ее вводят в результаты конкретного измерения скорости счета образца по формуле
N0 = N/S. (2)
Величина коэффициента самопоглощения кроме толщины образца зависит также от атомного номера вещества образца и максимальной энергии бета-частиц. Точный вид зависимости коэффициента S от указанных факторов пока не установлен, поэтому учет самопоглощения при измерении активности образцов (в тех случаях, когда это необходимо делать) должен быть проведен путем опытного определения коэффициента S для каждого изучаемого радионуклида в отдельности, причем именно в том веществе (соединении), с которым предполагается работать, так как образцы, подлежащие исследованию, могут быть в виде как кристаллического осадка, так и пористой массы, а иногда и жидкости.
Экспериментальное определение коэффициента самопоглощения производится способом, аналогичным рассмотренному выше. Берутся радиоактивные образцы разной толщины, но имеющие одну и ту же удельную активность. При этом необходимо соблюдать условие, чтобы все образцы имели одинаковую площадь и равномерное распределение радионуклидов в образце. Зависимость измеренной скорости счета от толщины образца в этом случае изобразится графически кривой. Истинной скорости счета на том же графике будет соответствовать прямая линия, проходящая через начало координат, поскольку скорость счета образцов с одинаковой удельной активностью пропорциональна толщине образца. Поэтому к полученной кривой самопоглощения необходимо провести касательную Б в начале координат (т. е. к начальной части экспериментальной кривой), по которой будет определяться N0 – истинная скорость счета для каждой толщины образца. Отношение ординат экспериментальной кривой и касательной прямой будет давать величину коэффициента самопоглощения S, определяемую по формуле (1).
Данный метод определения коэффициента S, а затем и введения поправки на самопоглощение, определяемой по формуле (2), довольно прост, но является весьма приближенным. Из-за рассеяния бета-частиц в образце форма кривой самопоглощения становится сложной, и практически затруднительно точно определить направление касательной, так как касательная на участке ОА (см. рис. 44) оказывается в то же время и секущей. Это связано с тем, что при толщине образцов d ≈ (3 – 10 %) · Rmax кривая 1 идет несколько выше прямой 2 (на рисунке это не показано), что соответствует увеличению скорости счета N по сравнению с истинным значением (N > N0). Этот эффект объясняется фокусирующим действием вещества образца, т. е. рассеянием бета-частиц, приводящим к увеличению числа частиц, направленных в сторону счетчика. При увеличении толщины образца эффект самопоглощения перекрывает эффект саморассеяния – кривая идет ниже прямой 2.
Следовательно, достоверность графического определения коэффициента S ограничивается трудностями проведения касательной к кривой самопоглощения. Поэтому данный метод нельзя применять, если необходимо более точно определить поправку на самопоглощение.
В этом случае пользуются следующим способом. Изготовляют серию образцов одинаковой общей активности, но различной толщины. Таким образом, удельная активность (am = А/m) образцов в этом случае является величиной переменной. Это достигается, например, путем подмешивания неактивного вещества – носителя – к образцам одинаковой активности. Проводят ряд измерений, начиная с самого тонкого образца, вводят поправки на мертвое время и фон. Результаты измерений изображают в виде графика (рис. 45). По оси абсцисс (горизонтальная ось) откладывается толщина образца d (г/см2), а по оси ординат (вертикальная ось) – соответствующие значения скорости счета N (имп/мин). Вследствие влияния различных взаимно компенсирующихся факторов получающаяся кривая имеет почти линейный вид и может быть с достаточной степенью точности экстраполирована (продолжена) на нулевую толщину образца (d = 0). Пересечение экстраполированной кривой с осью ординат даст скорость счета N0, соответствующую случаю полного отсутствия эффекта самопоглощения.
Далее на основе полученных данных и найденной скорости счета N0 строится кривая зависимости коэффициента самопоглощения S (отношение измеренной скорости счета N к истинной скорости счета N0) от толщины образцов d. По такому графику (рис. 46) непосредственно определяется поправка на самопоглощение, что более точно, чем в первом методе, особенно при наличии образцов большой удельной активности.
Насыщенным слоем для бета-излучения называют слой радиоактивного образца, при дальнейшем увеличении толщины которого не происходит увеличение потока бета-частиц (или скорости счета N). Практически толщина насыщенного слоя dнас равна максимальной величине пробега Rmax бета-частиц в данном веществе.
Слоем половинного ослабления d1/2 называют слой вещества, ослабляющий бета-излучение вдвое.
Материалы и оборудование: радиометр ПП-8; стронциево-иттриевый радиоактивный источник; калькулятор; миллиметровая бумага.
Порядок выполнения работы.
1. Подготовьте прибор к работе.
2. Проверьте исправность пересчетного прибора ПСТ-100.
3. На нижнюю позицию этажерки в свинцовом домике поместите радиоактивный источник (90Sr – 90Y), свинцовый домик закройте.
4. Включите прибор ПСТ-100 на измерение. Затем рукоятками «плавно» и «грубо» выпрямителя ВСВ-2 увеличьте напряжение до появления первых импульсов (свечение неоновых лампочек на черном диске). Это будет напряжение начала счета (Uн.с).
6. Остановите прибор, сбросьте показания. Установите интервал времени 100 с для автоматической остановки прибора.
7. Произведите измерение числа регистрируемых импульсов n за 100 с при напряжении начала счета.
8. Постепенно повышая напряжение каждый раз на 50 В, произведите 6 измерений. Результаты занесите в табл. 10, рассчитайте скорость счета N.
Таблица 10. Результаты измерений
№ п.п. |
U,В |
t, с |
n, имп |
|
|
|
|
|
|
9. Выключите установку.
10. По полученным результатам на миллиметровой бумаге постройте счетную характеристику.
11. По счетной характеристике определите напряжение начала счета Uн.c, напряжение начала плато Uн.п и напряжение конца плато Uк.п.
12. По формулам, приведенным выше, рассчитайте наклон и длину плато. Сделайте вывод об исправности счетчика и пригодности к работе.
13. Определите рабочее напряжение Up счетчика.
Прохождение электрического (ионизационного) тока через газы, сопровождающееся совокупностью электрических, оптических и тепловых явлений, называют газовым разрядом.
Газовый разряд определяется свойствами газа, зависит от материала катода, величины межэлектродного расстояния, напряжения на электродах, типа частиц и их энергии, активности источника, наличия магнитного поля и других факторов.
Самостоятельным газовым разрядом называют электрический разряд в газе, сохраняющийся после прекращения действия внешнего ионизатора, несамостоятельным – существующий только под действием внешнего источника ионизации.
При прохождении ионизирующей частицы через газовую среду образуются ионы, которые собираются на электродах. Положительные ионы движутся к катоду, отрицательные — к аноду. В электрической цепи образуется ионизационный ток, который регистрируется измерителем тока. По значению этого тока можно судить об интенсивности излучения или отсчитывать число зарегистрированных частиц. Протекание тока наблюдается до тех пор, пока на газ действует излучение. В противном случае ток в цепи не протекает, так как газ является изолятором.
При измерении любой физической величины принципиально невозможно определить истинное значение этой величины. Разность между измеренным и истинным (действительным) значениями физической величины называются погрешностью, или ошибкой измерения. Многократное измерение одной и той же постоянной величины приводит к различным значениям этой величины, которые отличаются от действительного. Без оценки ошибок результат измерения становится ненадежным, а в ряде случаев может оказаться, что он вообще не содержит информацию об измеряемой величине.
Ошибки измерения могут быть связаны с техническими трудностями (несовершенство измерительных приборов, ограниченные возможности зрительного аппарата человека, с помощью которого во многих случаях регистрируются показания приборов и т. д.), а также целым рядом факторов, которые трудно или невозможно учесть (колебания температуры воздуха, движение потоков воздуха вблизи измерительного прибора, вибрация измерительного прибора вместе с лабораторным столом и т. д.).
Различают три типа погрешностей (ошибок) измерения: грубые ошибки (промахи), систематические и случайные ошибки.
Грубые ошибки (промахи) обычно бывают связаны с неисправностью измерительной аппаратуры, ошибкой экспериментатора в отсчете или записи показаний приборов, резким изменением условий измерений. В этих случаях результаты измерений необходимо отбрасывать и взамен производить новые измерения.
Систематические ошибки измерений – это такие ошибки, которые при многократном измерении одной и той же величины остаются постоянными или изменяются по определенному закону. Систематические ошибки включают в себя методические и инструментальные (приборные) погрешности измерений.
Методические погрешности вызываются недостатками применяемого метода измерения, несовершенством теории физического явления, к которому относится измеряемая величина, неточностью расчетной формулы. Методические погрешности можно уменьшать путем совершенствования метода измерения, введением уточнений или поправок в расчетную формулу.
Инструментальные (приборные) погрешности вызываются несовершенством конструкции и неточностью изготовления измерительных приборов (применение отстающих или спешащих часов, несовпадение в стрелочном приборе центра шкалы с осью вращения стрелки и т. д.). Уменьшение приборной погрешности достигается применением более точных и совершенных приборов. Однако полностью устранить приборную погрешность невозможно.
Случайными ошибками измерений называются ошибки, абсолютная величина и знак которых изменяются при многократных измерениях одной и той же физической величины. Равновеликие положительные и отрицательные случайные отклонения одинаково часто будут встречаться в опыте. Случайные погрешности вызываются многими факторами, эффекты действия которых столь незначительны, что их нельзя выделить и учесть в отдельности. Полностью избавиться от случайных погрешностей невозможно, но их можно уменьшить путем многократного повторения измерений. При этом происходит частичная компенсация случайных отклонений результатов измерений в сторону завышения и занижения. Расчет случайных погрешностей производится методами теории вероятностей и математической статистики.