Материал: 684_Filimonova_N.I._Metody_ehlektronnoj_spektroskopii_

Внимание! Если размещение файла нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам

3.2. Анализаторы задерживающего поля (АЗП)

При исследовании поверхности в качестве широкополосного светосильного фильтра наиболее широко используется анализатор задерживающего поля (АЗП). В этом анализаторе используется тормозящее электростатическое поле, которое пропускает на коллектор только те электроны, кинетическая энергия которых превышает энергию задерживающего электрического поля. Сущность метода заключается в определении энергии электронов по максимальной величине потенциального барьера, который они могут преодолеть, двигаясь в тормозящем поле. В АЗП нет фокусировки по направлению, и поэтому их используют для определения только продольных составляющих скоростей электронов. Анализаторы задерживающего поля (АЗП) отсекают электроны с энергией меньше, чем Е0 = eU0. Флуоресцентный экран служит коллектором электронов.

Образец помещается в центр набора концентрических сферических секторных сеток (рис. 3.2).

Первая, ближайшая к образцу сетка, находится под тем же потенциалом (земля), что и образец. Это гарантирует, что электроны, покидающие образец, полетят в свободном от поля пространстве радиально по направлению к сетке.

Вторая и третья сетки анализатора электрически соединены и на них подается задерживающий потенциал U0 для анализа энергии электронов. Изменяя значение U0, можно регулировать долю электронов, достигших коллектора анализатора. Зависимость тока коллектора IK от энергии задерживающего поля еU0 называется кривой задержки вторичных электронов.

Электронная пушка

Образец

Экран Сетки

Рис. 3.2. Схема анализатора задерживающего поля [5]

Если задерживающий потенциал U0 выбрать более низким, то все электроны, энергия которых превышает энергию Е0, попадают на экран. В результате, если распределение электронов по энергии описывается функцией

N(E) на коллектор поступает ток электронов I(E) N(E)dE .

E0

16

Учитывая, что максимальная энергия электронов, эмитирующих из образца, соответствует энергии электронов в первичном пучке ЕР, то в действительности ток будет [2]:

 

E P

(3.1)

I ( E )

N ( E ) dE

 

 

E 0

 

Если этот ток (4) продифференцировать, то можно получить искомое распределение электронов по энергии N(E). Для этого проще всего модулировать задерживающий потенциал U0. Если на сетки подается задерживающий потенциал U0 и U0+ ΔU0, то разность между токами на коллекторе при этих потенциалах составит [2]:

 

E P E

(3.2)

I ( E )

N ( E ) dE

 

E0

Иесли величина Е=eΔU<<E0 мала, то разность токов будет равна

N(E0)ΔЕ т.е. пропорциональна искомому распределению по энергии N(E). Разрешение по энергии АЗП Е линейно ухудшается с увеличением ΔU,

в то время как сигнал N(E)ΔЕ возрастает с ростом ΔU [2], что приводит к компромиссу между сигналом и разрешением. Проблема решается только в случае очень малых значений ΔU (высокое разрешение), когда несферичность сеток и проникновение поля между ними ограничивают разрешение до 1 эВ.

На практике обычно задерживающий потенциал U0 модулируется синусоидально. На вторую и третью сетки анализатора подается напряжение U0+ΔUsin ωt. В этом случае ток коллектора можно с помощью разложения в ряд Тейлора представить в виде суммы гармоник. При этом сигнал первой гармоники пропорционален N(E).

Подводя итог, можно отметить, что основными преимуществами АЗП являются:

1)конструктивная простота и возможность использовать АЗП для работы в режиме дифракции медленных электронов;

2)большой угол сбора электронов (обычно порядка π стерадиан);

3)отсутствие аберраций, связанных с угловой расходимостью источника (в случае идеально сферических сеток).

Косновным недостаткам АЗП следует отнести:

1)плохое отношение сигнал/шум, обусловленное тем, что все электроны с энергией большей энергии пропускания Е0, попадают на коллектор и генерируют дробовой шум;

2)ограничение разрешения АЗП несферичностью и размерами сеток, а также расстоянием между ними;

3)малый рабочий отрезок АЗП, т.к. большая часть поверхности образца затенена.

Для типичного АЗП, радиус кривизны которого составляет 50 мм а расстояние между сетками около 2-3 мм, разрешение по энергии Е/E составляет 10-2 – 5 ·10-3.

17

3.3. Отклоняющие электростатические анализаторы (дисперсионные)

Отклоняющие электростатические анализаторы обладают более высоким энергетическим разрешением. Это достигается благодаря тому, что в анализаторах отклоняющего типа регистрируются только электроны в пределах узкого энергетического окна (рис. 3.1, б). Селекция электронов происходит за счёт пропускания пучка электронов через диспергирующее поле, в котором отклонение является функцией энергии электрона, в результате чего только электроны с определённой энергией проходят по заданной траектории, ведущей к коллектору.

Ванализаторе может быть использовано как электростатическое, так и магнитное поле [2]. Но магнитные анализаторы обычно используются лишь при очень высоких энергиях, а при энергиях, которые используются в большинстве методов электронной спектроскопии, применяют электростатические анализаторы, которые компактны, достаточно просты при обслуживании и могут быть использованы в высоковакуумных системах.

Ванализаторах отклоняющего типа электростатическое поле создается поперёк движения электронов. Простейшим вариантом мог бы быть плоский конденсатор (анализатор типа плоское электростатическое зеркало), в котором эквипотенциальные поверхности представляют собой систему эквидестантных

ипараллельных плоскостей. Влетающие параллельно пластинам электроны отклоняются полем на расстояние, зависящее от энергии самого электрона (чем меньше энергия, тем больше отклонение). И если в пластине с положительным потенциалом сделать отверстие (выходная апертура), то из него будут вылетать электроны с энергиями, лежащими в определенном интервале Е. Величина этого интервала (энергетическое разрешение анализатора) зависит от напряженности поля и размера выходной апертуры. Но ввиду того, что отклонение электронов полем зависит также и от угла инжекции самих электронов (вследствие чего даже электроны с одинаковой энергией будут отклоняться по-разному), то в выходном электронном токе появляется разброс по энергии, связанный с угловым разбросом падающих электронов.

Следовательно, наличие разброса по углам даже в моноэнергетическом источнике снижает как разрешение по энергии, так и пропускание анализатора. Поэтому для увеличения чувствительности анализаторы должны фокусировать на выходной апертуре все электроны, имеющие одинаковую энергию, но попадающие во входное отверстие анализатора под различными углами. В идеале положение фокуса не должно зависеть от угла инжекции по отношению к центральной траектории электронов.

Существуют следующие анализаторы отклоняющего типа: - анализатор типа «плоское электростатическое зеркало»; - анализатор типа «цилиндрическое зеркало» (АЦЗ); - полусферический концентрический анализатор (ПСА); - 127º-ный секторный цилиндрический анализатор.

18

Анализатор типа «плоское электростатическое зеркало»

Этот анализатор может обеспечить угол полного отклонения либо 45º (фокусировка первого порядка), либо 30º (фокусировка второго порядка). Такие анализаторы распространены не столь широко как остальные, хотя могут быть удобны при исследованиях с угловым разрешением, так как такой анализатор отличается конструктивной простотой и может быть сделан весьма миниатюрным [2].

Анализатор типа «цилиндрическое зеркало» (АЦЗ)

Наибольшее распространение в электронных спектрометрах получил анализатор типа «цилиндрическое зеркало» (АЦЗ) также называемый «цилиндром Венельда». Работа АЦЗ основана на применении узкополосного энергетического фильтра, благодаря которому в коллектор попадают электроны с энергией в пределах 0Е) < Е < 0 + Е) (рис. 3.1 б).

Анализатор этого типа состоит из двух коаксиальных полых металлических цилиндров и при угле входа относительно оси анализатора 42019обладает фокусировкой второго порядка (рис. 3.3).

 

r

 

 

Vab

B

 

ν0

 

rb

rmax

A

 

 

θ

 

 

ra

 

 

O

O1

 

θ

 

 

S1

S2

 

ν0

 

 

L0

 

Рис. 3.3. Схема анализатора типа «цилиндрическое зеркало» (АЦЗ) [5]

Во внутреннем цилиндре A имеются узкие прорези S1 и S2 для прохождения входящих и выходящих электронов соответственно. К внешнему цилиндру B прикладывается отрицательный по отношению к внутреннему цилиндру потенциал Uab, а внутренний цилиндр и исследуемый образец заземлены. В пространстве между цилиндрами напряженность электростатического поля изменяется обратно пропорционально радиусу r [6]:

Е(r)

Vab

(3.3)

rln r /r

 

 

b

a

где ra и rb – соответственно радиусы внутреннего и внешнего цилиндров. Первичный пучок электронов фокусируется на образце в точку

диаметром порядка 100 мкм, которая является одним из фокусов анализатора.

19

Возникающие вторичные электроны движутся в радиальных направлениях и влетают в анализатор (рис. 3.3) с некоторой скоростью v0 под углом входа θ. В результате отклонения от первоначальной траектории под действием электрического поля электроны будут двигаться по криволинейной траектории и сфокусируются на выходе в точке О1, в которой располагается коллектор электронов, например, электронный умножитель. Входная щель внутреннего цилиндра пропускает в анализатор электроны, заключенные в телесном угле между двумя коаксиальными конусами, составляющими угол 70. Наилучшая фокусировка электронного пучка в АЦЗ достигается при угле входа электронов θ = 42° 18,5'. В этом случае расстояние между точками О и О1, т.е. между образцом и детектором электронов L0 = 6,12ra. Максимальное удаление электронов от оси анализатора rmax= 0,3L0. [5].

Энергия пропускания электронов Е0 пропорциональна потенциалу внешнего цилиндра Uab и определяется геометрией анализатора [5]. Ток коллектора IK прямо пропорционаленэнергораспределению электронов:

 

(3.4)

IK N(E) T(E)dE

0

где Т(Е)– функция пропускания анализатора, определяющая количество электронов, достигших коллектора.

Так как энергия анализируемых электронов пропорциональна потенциалу внешнего цилиндра, то изменяя Uab (т.е. изменяя и Е0) можно получить информацию об энергораспределении электронов. АЦЗ обычно используют в режиме постоянного значения Е/Е0.

Анализатор типа «цилиндрическое зеркало» характеризуется высокой чувствительностью, но имеет скромное разрешение по энергии. Разрешение стандартных анализаторов типа АЦЗ R=ΔЕ/Е0 составляет 0,3-1,5% [4].

Для увеличения разрешения используются двухпролётные анализаторы (рис.3.4), состоящие из двух последовательно соединенных анализаторов. Двухпролетный анализатор представляет собой два последовательных обычных АЦЗ. Для измерений с угловым разрешением используется вращающаяся диафрагма, расположенная на входе электронов во второй каскад анализатора.

К основным преимуществам АЦЗ следует отнести высокую эффективность сбора электронов, обеспечивающую высокие значения светосилы (и, следовательно, чувствительности).

20

Источник: https://studfile.net/preview/16708999/