Материал: Методические указания для выполнения лабараторных работ. Оптика и атомная физика

(Таблица 1), с рассчитанным по формуле (2.14) по экспериментально опреде-

ленной ширине линий x (2.13), и по формуле (2.15) для длины волны зеле-

ного света λ 0 550 нм .

1. Включите в отчет по работе чертеж хода лучей (см. рис. 2.1 и 2.2).

Исследование дифракции Фраунгофера на щели

На рис.3.2 показаны поперечное сечение щели шириной b, образованной

0. некотором светонепроницаемом препятствии, собирающая линза Л, экран Э, а также ход выбранных для рассмотрения дифрагировавших световых лу-чей. На рисунке обозначены: С – центр линзы, φ – угол дифракции лучей.

Рис.3.2. Дифракция параллельных лучей света на щели. Распределение интенсивно-сти дифрагированных лучей на экране.

Из множества возможных значений угол дифракции φ выбирается так, чтобы вторичные источники света в щели являлись зонами Френеля (обозна-

17

чим ширину зон Френеля как s), фазы колебаний в которых сдвинуты на

0. = π , то есть происходят в противофазе. Для этого разность хода любых двух соседних лучей от их источников до некоторой нормали АВ к лучам

(волновой поверхности дифрагировавшего пучка света) согласно связи

тельно его центра при дифракции на щели определяются соответственно:

x_m = m ^λ_b L , m =1, 2, 3…,

x n

L

0. n = 0, 1, 2, 3…

(3.1)

где L – расстояние от щели до экрана.

Исследование дифракции Фраунгофера на нескольких щелях

Прозрачной одномерной дифракционной решеткой называют периоди-ческую систему параллельных щелей в преграде, имеющих одинаковую ши-рину b и расположенных на одинаковом расстоянии друг от друга. Основным параметром решетки является ее период d (постоянная решетки). На N щелей решетки по нормали падает пучок параллельных лучей. Эти щели можно рассматривать как N когерентных источников света. На каждой щели проис-ходит дифракция света. Дифрагировавшие под одинаковым углом лучи N когерентных источников при суперпозиции интерферируют.

Для одномерной дифракционной решетки положение главных мини-мумов и максимумов определяются соответственно:

b sin φm

=

mλ

, d sin φ_k = kλ (3.2),

где m, k = 1, 2, 3… – порядки главного минимума и главного максимума

При больших расстояниях L от решетки до экрана суперпозиция парал-

лельных дифрагировавших лучей осуществляется на экране и без собираю-щей линзы в точке x Lsin φ , когда координаты главных минимумов и мак-симумов соответствуют формулам:

x_m = m _d^λ L - max; m = 1, 2, 3.., x_k = k ^λ_b L - min, k = 1, 2, 3… . (3.3)

18

0. точках главных минимумов интенсивности главных максимумов ста-новятся равными нулю.

Наклонное падение лучей на дифракционную решетку

Если плоская монохроматическая волна падает на решетку, работаю-щую на пропускание, под углом θ (рис. 3.3), то разность хода двух соседних лучей, дифрагировавших под углом φ равна:

= d (sin θ − sin φ)

(3.4)

Рис. 3.3 Дифракция лучей при наклонном падении на дифракционную решетку.

0. этом случае условие, при котором наблюдаются главные максимумы интенсивности света, для дифракционной решетки запишется в виде:

d (sin θ − sin φ k ) cos θ = kλ , где k = 0,1,2,3...- порядок главного максимума.

Эту формулу можно записать как:

Дифракция на двумерной решетке

(3.5)

Двумерная решетка представляет собой скрещенные перпендикулярно друг другу решетки с периодами d1 и d2, причем часто d1 = d2. Пусть ось Х перпендикулярна щелям первой решетки. Ось Y – щелям второй, а ось Z направлена перпендикулярно плоскости двумерной решетки.

При больших расстояниях L от решетки до экрана, суперпозиция па-раллельных дифрагировавших лучей осуществляется на экране и без соби-рающей линзы и координаты главных максимумов вдоль оси X и вдоль оси Y определяются соответственно как:

x_k = k₁ ^λ L , y_k = k₂ ^λ L ,

¹ d₁ ² d₂

(3.6)

19

Если в каждой решетке число щелей N₁ и N₂ достаточно велико, то мак-

симумы будут очень острыми и в них сосредоточится практически вся свето-вая энергия дифрагировавших волн. В результате на экране, расположенном за двумерной решеткой получится дифракционная картина в виде четких, симметрично расположенных световых пятен, каждому из которых соответ-ствуют два целочисленных индекса к₁ и к₂ (рис.3.4).

Рис.3.4. Вид дифракционной картины на двумерной дифракционной решетке.

Указания по подготовке к работе

0. Подготовьте в протоколе эксперимента таблицы по форме 3.1- 3.4 и стан-дартную таблицу обработки данных выборочным методом (см. приложение к

пособию), содержащую две строки f = b, d для нахождения величин

b = b b

0. d = dd .

Таблица 3.1. Константы эксперимента

L, λ

(заносятся с панели прибора).

L, мм

370

0. L,мм

2

λ, нм

650

Таблица 3.2. Выборка значений ширины щели

k

3

2

1

xk

b = kλL x_k

-1 -2 -3

20

0. = b θλ + θL + θxk b λ L x