Материал: Моделирование технологических процессов производства изделий микроэлектроники. методические указания к лабораторным работам. Питолин А.В

Поэтому при одновременной диффузии мышьяка и индия в германий дырочной проводимости с необходимым удельным сопротивлением получаются р-п-р структуры.

Рис. 6. Схема биполярного транзистора, сформированного по стандартной планарной технологии.

Для получения диффузионных переходов в кремнии, наряду с методом одновременной диффузии примесей, например, из соединений III—V групп, применяют метод последовательной диффузии донорных и акцепторных примесей или их сплавов или соединений, в особенности окислов.

Первый метод, хотя и отличается простотой, не допускает раздельного регулирования концентрации примесей или температуры. Поэтому обычно предпочитают второй метод, допускающий раздельное регулирование концентрации и температуры. Сначала в полупроводник вводят медленно диффундирующую примесь (донор), так как иначе будет трудно управлять распределением быстро диффундирующей примеси (акцептора). Для лучшего контролирования процесса нужно, чтобы оба примесных элемента присутствовали в полупроводнике только во время второй диффузии. В том случае, когда можно задавать концентрации независимо от температуры, проведение обоих диффузионных циклов при различных температурах обеспечивает большую гибкость процесса. Даже когда коэффициенты диффузии донора и акцептора одинаковы, то

24

можно управлять процессом путем различной продолжительности первого и второго цикла.

Как уже упоминалось, в случае многокомпонентных систем полагают, что каждая примесь диффундирует независимо от другой. Это согласуется с опытными данными. Чтобы показать соотношение между концентрациями примесей в полупроводнике при различных коэффициентах их диффузии и поверхностных концентрациях, рассмотрим одновременную диффузию двух примесей при постоянных поверхностных концентрациях CS. Распределение примесей для этого случая показано на рис. 7. Концентрация донора представлена кривой CD. Предполагается, что донор более растворим и менее подвижен, чем акцептор (кривая CA). Прямая C0D соответствует постоянной концентрации донора в исходном полупроводнике. Первый р-п переход b1 возникает, когда кривая, отвечающая суммарной концентрации донора CD+C0D, пересечет акцепторную кривую, а второй переход b2, когда кривая CA пересечет прямую C0D. Зависимость разности концентраций CD—CА от расстояния показана для этого случая на рисунке 7а. Наклон кривой CD-CA=f(x) в р-области или в базовой области характеризует внутреннее электрическое поле, возникающее в базовой области транзистора. Это поле ускоряет перемещение электронов к переходу b2 в той части базовой области, которая лежит правее минимума на кривой; наличие такого поля является одним из важных преимуществ диффузионных структур. Тормозящее поле, которое имеется в левой половине базовой области, должно быть возможно меньшим.

Базовую диффузию обычно осуществляют в две стадии: первая стадия – стадия загонки, вторая стадия – стадия разгонки. Стадию загонки проводят в течение короткого времени, при этом количество примеси строго регламентируется. Распределение концентрации примеси описывается erfc-функцией:

25

где Q – поверхностная концентрация введенной примеси; Сo – поверхностная концентрация примеси при загонке; D1 – коэффициент диффузии примеси;

t1 – время загонки примеси.

Рис. 7. Распределение примесей при одновременной диффузии донора CD и акцептора CA в полупроводник с исходной концентрацией донора CO (а) и зависимость разности концентраций CD—CА от глубины (б): p-n переходы возникают на глубине b1 и b2 от поверхности.

Вторую стадию проводят более длительное время, а распределение примеси при этом подчиняется экспоненциальному распределению:

26

где D2 – коэффициент диффузии примеси при разгонке; t1 – время разгонки примеси.

Глубина залегания p-n перехода рассчитывается с помощью выражения:

где Cs – концентрация примеси в исходном полупроводнике.

Диффузию эмиттерной области обычно проводят из источника с постоянной поверхностной концентрацией, поэтому распределение примеси описывается erfc-функцией:

определяется точкой инверсии типа проводимости. Для расчета глубины залегания p-n перехода необходимо решить уравнение

Точный расчет в аналитическом виде весьма затруднителен, поэтому в работе глубина залегания p-n перехода вычисляется численным методом.

Одним из важных параметров биполярного транзистора является максимальная концентрация примеси в базе и глубина ее залегания. Эти параметры рассчитываются также численным методом.

При расчете распределения концентрации базовой примеси и определении положения p-n переходов необходимо учесть перераспределение примеси в базовой области при диффузии эмиттерной примеси. При многократном

27

воздействии на полупроводник повышенной температуры в расчете используется эффективное значение произведения D t:

примеси не может превышать ее максимальную растворимость в кремнии. Распределение концентрации примесей после проведения всех стадий диффузии показано на рисунке 8.

Рис. 8. Распределение концентрации примесей в p-n-p транзисторе.

3. Лабораторное задание

В результате выполнения лабораторной работы необходимо сформировать биполярный транзистор с требуемой шириной базы и эмиттера, используя раздельную диффузию заданных примесей

Порядок выполнения работы

1.Получить задание у преподавателя.

2.Запустить программу MathCAD щелкнув указателем мыши по соответствующей пиктограмме.

3.Открыть файл «Биполярный транзистор».

28