Материал: диссертация_НН-Губановой

Внимание! Если размещение файла нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам

111

а)

б)

в)

с)

Рисунок 7.1. Оптическое изображение однородных по структуре свежеосажденных пленок, полученных из золя состава 20Pt_80Si_5 (а), 20Pt_80Si_10 (б), 20Pt_80Si_20 (в), нанесенных на кремневые подложки и платиносодержащих пленок с неоднородной структурой (с).

Макропористость пленок, нанесенных различными способами, была исследована методом оптической микроскопии (рисунок 7.2). Для сравнения представлено изображение кремнеземной пленки, полученной центрифугированием из золя, не содержащего платины, и термообработанной при 250°С.

а

б

в

г

Рисунок. 7.2. Оптические изображения поверхности пленок, нанесенных на покровные стекла из золя 60Pt_40Si_3 разливом (а), центрифугированием (б, в) без термообработки (а, б) и после термообработки при 250°С (в), а также из недопированного золя, термообработанного при при 250°С (г). Увеличение в 400 крат.

112

Из рисунка 7.2 видно, что на состояние поверхности пленок на макроуровне оказывают влияние состав золя, а также присутствие легирующего компонента (в данном случае соединений платины), способ нанесения и температура термообработки. Так, в результате центрифугирования формируются более тонкие и пористые пленки (рисунок 7.2 а, б). Данные явления характерны для пленок, полученных из золей с меньшим содержанием платины (от 10 до 20 мас.%, в пересчете на PtO2 в кремнеземной пленке), но с большей концентрацией ТЭОС (7-10 об.%) [20, 45, 77, 81, 192-194]. В пленках, полученных из золей с бóльшим содержанием платины (60-80 мас. %) и с меньшей концентрацией ТЭОС (1-3 об. %), особенно полученных из длительно созревавших золей, количество пор больше. В отличие от нелегированных кремнеземных пленок, при термообработке 250 – 450°С или 550°С, происходит не схлопывание пор, а, наоборот, увеличение не только их размера, но и количества, то есть повышается общая пористость платиносодержащих силикатных пленок. В данном случае роль Pt можно сравнить с ролью оксидов-модификаторов в стекле, приводящих к деполимеризации структуры силикатной сетки.

На следующем масштабном уровне, при бóльшем увеличении, с помощью метода АСМ видно, что на поверхности пленки, сформированной из золя 60Pt_40Si_3-old с высоким содержанием платины, созревавшего в течение длительного времени (рисунок 7.3 а), сформировались поры (черные точки на изображении), радиус которых составляет ~ 50±10 нм. Шероховатость поверхности пленки можно оценить с помощью величины σ – шероховатости поверхности слоя, которая составляет 7±2 Å, при толщине пленки ~15 нм. В то же время поверхность другой пленки 20Pt_80Si_3-old, содержащей в 3 раза меньше Pt (рисунок 7.3. б), имеет существенно менее выраженную пористость, но более развитый рельеф: σ≈ 12±4 Å, при значительно большей толщине ~42 нм.

113

а)

б)

Рисунок 7.3. АСМ-изображения поверхности (справа) пленок 60Pt_40Si_3-old (а) и

20Pt_80Si_3-old (б), полученных из длительно созревавших в течение 6 лет золей с разной концентрацией платины и одинаковым содержанием ТЭОС, распределение латеральных сил трения на поверхности пленок (в середине) и профили сечения к АСМ-изображениям поверхностей (справа); поле сканирования 1.6×1.6 мкм.

С помощью АСМ можно оценить однородность фазового состава поверхности, используя карту распределения латеральной силы трения, возникающей между зондом и поверхностью образца в процессе сканирования (рисунок 7.3, фото в середине). Величина измеренной силы трения во всех точках поверхности обоих образцов примерно одинакова и равна 0.01±0.005 нА, следовательно, поверхности кремнеземных пленок, легированных платиной, достаточно однородны по составу.

Кроме того, чтобы составить представление о распределении частиц платины в кремнеземной матрице на более мелком масштабном уровне была выполнена электронная микроскопия (рисунок 7.4). На рисунке 7.4 а и б видно, что на разных масштабных уровнях наблюдается статистически равномерное распределение частиц соединений платины, как субмикронного, так и нанометрового размера.

114

а) б) Рисунок 7.4. Просвечивающая электронная микроскопия субмикронных и нанометровых

частиц платины, распределенных в ксерогеле, полученном из платиносодержащего кремнезоля состава 20Pt_80Si_1.

Для выяснения характера распределения наночастиц Pt в плоскости поверхности пленки были построены карты GISAXS (рисунок 7.5 a и б). Распределение интенсивностей рассеяния для образцов 60Pt_40Si_1 и 60Pt_40Si_3 имеет вид, характерный для объектов с высокой степенью полидисперсности, что выражается в отсутствии выраженных максимумов. Опираясь на экспериментальные данные были построены профили GISAXS карт вдоль линии αf = 0.22o

вблизи критического угла, профили интенсивности рассеяния I(

)

(рисунок 7.5 в), которые

приведены в двойном логарифмическом масштабе в представлении||Кратки I ||2

||

. На каждом

60Pt_40Si_1 и 2

48.7±4.5 нм для образца 60Pt_40Si_3. Это

=

 

 

профиле можно выделить два широких максимума, соответствующих

среднему межчастичному

 

( )

 

наноуровне (

=

1

35.2±5.7 нм для образца

расстоянию в плоскости плёнки с широким разбросом значений:

 

свидетельствует о том, что на десятки нанометров) агломераты частиц Pt равномерно распределены на расстоянии ~ 30 - 40 нм друг от друга, в очень тонких, высоколегированных слоях, толщиной

около 14 нм и на несколько большем расстоянии 44 - 53 нм в более толстых пленках толщиной

25 - 40 нм.

115

а)

б)

в)

Рисунок 7.5. Карты GISAXS для пленок 60Pt_40Si_1 (а) и 60Pt_40Si_3 (б), угол падения излучения αi = 0.15o, вдоль пунктирных линий построены профили интенсивности (в), по центру карт рассеяния находится тень от бимстопа, предохраняющего детектор от засветки прямым и отражённым пучками.

На изображении (рисунок 7.6), полученном методом РЭМ высокого разрешения, наглядно видно, что частицы Pt статистически равномерно распределены в кремнеземной матрице, и эти данные хорошо согласуется с данными GISAXS. Средний диаметр наночастиц Pt, полученный из обработки данных РЭМ в программе ImageJ [195] в пленке 60Pt _40Si_1 составляет d1 = 3.9 нм со стандартным отклонением σ = 2.6 нм, а для состава 60Pt_40Si_3 – d2 = 4.0 нм со стандартным отклонением σ = 2.0 нм. Нужно заметить, что размеры «видимых» наночастиц Pt на РЭМ изображениях немного меньше размеров кристаллитов, вычисленных из данных рентгеноструктурного анализа.

Источник: https://studfile.net/preview/16555326/