111
а) |
б) |
в) |
с)
Рисунок 7.1. Оптическое изображение однородных по структуре свежеосажденных пленок, полученных из золя состава 20Pt_80Si_5 (а), 20Pt_80Si_10 (б), 20Pt_80Si_20 (в), нанесенных на кремневые подложки и платиносодержащих пленок с неоднородной структурой (с).
Макропористость пленок, нанесенных различными способами, была исследована методом оптической микроскопии (рисунок 7.2). Для сравнения представлено изображение кремнеземной пленки, полученной центрифугированием из золя, не содержащего платины, и термообработанной при 250°С.
а |
б |
в |
г |
Рисунок. 7.2. Оптические изображения поверхности пленок, нанесенных на покровные стекла из золя 60Pt_40Si_3 разливом (а), центрифугированием (б, в) без термообработки (а, б) и после термообработки при 250°С (в), а также из недопированного золя, термообработанного при при 250°С (г). Увеличение в 400 крат.
112
Из рисунка 7.2 видно, что на состояние поверхности пленок на макроуровне оказывают влияние состав золя, а также присутствие легирующего компонента (в данном случае соединений платины), способ нанесения и температура термообработки. Так, в результате центрифугирования формируются более тонкие и пористые пленки (рисунок 7.2 а, б). Данные явления характерны для пленок, полученных из золей с меньшим содержанием платины (от 10 до 20 мас.%, в пересчете на PtO2 в кремнеземной пленке), но с большей концентрацией ТЭОС (7-10 об.%) [20, 45, 77, 81, 192-194]. В пленках, полученных из золей с бóльшим содержанием платины (60-80 мас. %) и с меньшей концентрацией ТЭОС (1-3 об. %), особенно полученных из длительно созревавших золей, количество пор больше. В отличие от нелегированных кремнеземных пленок, при термообработке 250 – 450°С или 550°С, происходит не схлопывание пор, а, наоборот, увеличение не только их размера, но и количества, то есть повышается общая пористость платиносодержащих силикатных пленок. В данном случае роль Pt можно сравнить с ролью оксидов-модификаторов в стекле, приводящих к деполимеризации структуры силикатной сетки.
На следующем масштабном уровне, при бóльшем увеличении, с помощью метода АСМ видно, что на поверхности пленки, сформированной из золя 60Pt_40Si_3-old с высоким содержанием платины, созревавшего в течение длительного времени (рисунок 7.3 а), сформировались поры (черные точки на изображении), радиус которых составляет ~ 50±10 нм. Шероховатость поверхности пленки можно оценить с помощью величины σ – шероховатости поверхности слоя, которая составляет 7±2 Å, при толщине пленки ~15 нм. В то же время поверхность другой пленки 20Pt_80Si_3-old, содержащей в 3 раза меньше Pt (рисунок 7.3. б), имеет существенно менее выраженную пористость, но более развитый рельеф: σ≈ 12±4 Å, при значительно большей толщине ~42 нм.
113
а)
б)
Рисунок 7.3. АСМ-изображения поверхности (справа) пленок 60Pt_40Si_3-old (а) и
20Pt_80Si_3-old (б), полученных из длительно созревавших в течение 6 лет золей с разной концентрацией платины и одинаковым содержанием ТЭОС, распределение латеральных сил трения на поверхности пленок (в середине) и профили сечения к АСМ-изображениям поверхностей (справа); поле сканирования 1.6×1.6 мкм.
С помощью АСМ можно оценить однородность фазового состава поверхности, используя карту распределения латеральной силы трения, возникающей между зондом и поверхностью образца в процессе сканирования (рисунок 7.3, фото в середине). Величина измеренной силы трения во всех точках поверхности обоих образцов примерно одинакова и равна 0.01±0.005 нА, следовательно, поверхности кремнеземных пленок, легированных платиной, достаточно однородны по составу.
Кроме того, чтобы составить представление о распределении частиц платины в кремнеземной матрице на более мелком масштабном уровне была выполнена электронная микроскопия (рисунок 7.4). На рисунке 7.4 а и б видно, что на разных масштабных уровнях наблюдается статистически равномерное распределение частиц соединений платины, как субмикронного, так и нанометрового размера.
114
а) б) Рисунок 7.4. Просвечивающая электронная микроскопия субмикронных и нанометровых
частиц платины, распределенных в ксерогеле, полученном из платиносодержащего кремнезоля состава 20Pt_80Si_1.
Для выяснения характера распределения наночастиц Pt в плоскости поверхности пленки были построены карты GISAXS (рисунок 7.5 a и б). Распределение интенсивностей рассеяния для образцов 60Pt_40Si_1 и 60Pt_40Si_3 имеет вид, характерный для объектов с высокой степенью полидисперсности, что выражается в отсутствии выраженных максимумов. Опираясь на экспериментальные данные были построены профили GISAXS карт вдоль линии αf = 0.22o
вблизи критического угла, профили интенсивности рассеяния I( |
) |
(рисунок 7.5 в), которые |
|||
приведены в двойном логарифмическом масштабе в представлении||Кратки I ||2 |
|| |
. На каждом |
|||
60Pt_40Si_1 и 2 |
48.7±4.5 нм для образца 60Pt_40Si_3. Это |
= |
|
|
|
профиле можно выделить два широких максимума, соответствующих |
среднему межчастичному |
||||
|
( ) |
|
|||
наноуровне ( |
= |
1 |
35.2±5.7 нм для образца |
||
расстоянию в плоскости плёнки с широким разбросом значений: |
|
||||
свидетельствует о том, что на десятки нанометров) агломераты частиц Pt равномерно распределены на расстоянии ~ 30 - 40 нм друг от друга, в очень тонких, высоколегированных слоях, толщиной
около 14 нм и на несколько большем расстоянии 44 - 53 нм в более толстых пленках толщиной
25 - 40 нм.
115
а) |
б) |
в)
Рисунок 7.5. Карты GISAXS для пленок 60Pt_40Si_1 (а) и 60Pt_40Si_3 (б), угол падения излучения αi = 0.15o, вдоль пунктирных линий построены профили интенсивности (в), по центру карт рассеяния находится тень от бимстопа, предохраняющего детектор от засветки прямым и отражённым пучками.
На изображении (рисунок 7.6), полученном методом РЭМ высокого разрешения, наглядно видно, что частицы Pt статистически равномерно распределены в кремнеземной матрице, и эти данные хорошо согласуется с данными GISAXS. Средний диаметр наночастиц Pt, полученный из обработки данных РЭМ в программе ImageJ [195] в пленке 60Pt _40Si_1 составляет d1 = 3.9 нм со стандартным отклонением σ = 2.6 нм, а для состава 60Pt_40Si_3 – d2 = 4.0 нм со стандартным отклонением σ = 2.0 нм. Нужно заметить, что размеры «видимых» наночастиц Pt на РЭМ изображениях немного меньше размеров кристаллитов, вычисленных из данных рентгеноструктурного анализа.