Материал: Моделирование технологических процессов производства изделий микроэлектроники. методические указания к лабораторным работам. Питолин А.В

Внимание! Если размещение файла нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам

максимальная поверхностная концентрация примеси С0 не может превышать ее максимальную растворимость в кремнии. Обычно считают, что если при температуре диффузии имеется избыток примеси, то поверхностная концентрация примеси равна ее максимальной растворимости. Данные по максимальной растворимости примесей в кремнии представлены в таблице 2.

Таблица 2 Максимальная растворимость некоторых примесей в кремнии.

Элемент

Максимальная

Температура

 

растворимость,

максимальной

 

ат/см3

растворимости, оС

 

 

 

Алюминий

2 1019

1150

Бор

4 1020

1200

Висмут

8 1017

1300

Галлий

4 1019

1250

Индий

1019

1300

Мышьяк

2 1021

1150

Сурьма

8 1019

1300

Фосфор

1,3 1021

1150

3. Лабораторное задание

В результате выполнения лабораторной работы необходимо: рассчитать характеристики распределения заданной примесив кремний при одностадийной диффузии из источника бесконечной мощности (примесь 1); определить параметры двухстадийной диффузии той же примеси в кремний для получения p-n перехода на заданной глубине и требуемой ее поверхностной концентрации (примеси 1,2).

Порядок выполнения работы

1.Получить задание у преподавателя.

2.Запустить программу MathCAD щелкнув указателем мыши по соответствующей пиктограмме.

3.Открыть файл «Диффузия».

4.Выбрать из приложения 2 необходимые для расчета параметры.

9

5.Ввести в соответствующие ячейки необходимые для расчета константы.

6.Получить график зависимости коэффициента диффузии от температуры, рассчитать коэффициент диффузии примеси для заданной температуры.

7.Выбрать раздел программы для вида источника диффузии в соответствии с заданием.

8.Получить график распределения концентрации примеси в полупроводнике.

9.Рассчитать глубину залегания p-n перехода

4. Указания по оформлению отчета и контрольные вопросы

Отчет должен содержать:

1.Наименование и цель лабораторной работы.

2.Исходные данные для расчета и моделирования процесса диффузии.

3.Численные результаты моделирования процесса диффузии.

4.Графики полученных диффузионных профилей.

5.Выводы по проделанной работе.

Контрольные вопросы

1.Что такое диффузия и для чего она применяется?

2.Как происходит перемещение атомов примеси в решетке кристалла?

3.Что такое коэффициент диффузии и от каких параметров он зависит?

4.Как выглядит распределение концентрации примеси по глубине при диффузии из источника бесконечной мощности?

5.Как выглядит распределение концентрации примеси по глубине при диффузии из источника ограниченной мощности?

10

Примесь

Температура

Время

Глубина

Поверхностная

варианта

 

диффузии,

диффузии,

p-n перехода,

 

концентрация

 

 

оС

с

мкм

 

примеси, см-3

 

 

 

 

 

1

2

в исходном

 

 

 

 

 

 

 

кремнии

1

P

1200

600

1

1021

1018

1015

2

In

1100

1200

0,8

1018

1017

1015

3

B

1100

600

1,5

4x1021

1020

1016

4

Sb

1200

600

1

1019

1018

1015

5

As

1200

1000

1,5

1020

1019

1017

6

Ga

1200

1200

2

1018

1017

1015

Рис. 1. Механизмы диффузии: а – термостимулированная диффузия; б – диффузия, стимулированная полем (электрическая, механических напряжений); в – диффузия по двум каналам (диссоциативная, стимулированная ионизацией); г – диффузия, стимулированная высвобождением энергии (фотон, фонон).

11

Лабораторная работа № 2 Моделирование технологического процесса металлизации

методом магнетронного распыления

1. Общие указания по выполнению работы

1.1.Цель работы: изучение физических и технологических основ процесса металлизации методом магнетронного распыления.

1.2.Содержание работы

Лабораторная работа состоит из домашнего и лабораторного заданий. Домашнее задание заключается в изучении физических и технологических основ нанесения металлических пленок в планарной технологии методом магнетронного распыления материалов. Лабораторное задание состоит в моделировании процесса металлизации с помощью пакета прикладных программ MathCAD.

2. Домашнее задание и методические указания по его выполнению

Одним из наиболее эффективных методов нанесения пленок в планарной технологии является метод магнетронного распыления материалов [3]. Этот метод является разновидностью ионно-плазменного распыления. Распыление материала в этих системах происходит за счет бомбардировки поверхности мишени ионами рабочего газа. Скорость распыления в магнетронной системе в 50 100 раз выше по сравнению с обычным ионно-плазменным распылением. Высокая скорость распыления материала в магнетронной системе распыления определяется высокой плотностью ионного тока на мишень. Высокая плотность ионного тока достигается за счет локализации плазмы у поверхности мишени с помощью сильного поперечного магнитного поля.

12

Рис. 2. Схема магнетронной системы распыления:

1 - мишень; 2 – магнитная система; 3 – зона распыления; 4 – магнитные силовые линии; 5 – поток распыляемого вещества; 6 – подложка; 7 – подложкодержатель.

Схема магнетронной системы распыления показана на рисунке 2. Основными элементами системы являются мишень 1 и магнитная система 2. Магнитные силовые линии 4 замкнуты между полюсами магнитной системы. Между мишенью 1 и подложкодержателем 7 прикладывается электрическое поле и возбуждается аномальный тлеющий разряд. Замкнутое магнитное поле у поверхности мишени локализует разряд вблизи этой поверхности. Положительные ионы из плазмы аномального тлеющего разряда ускоряются электрическим полем и бомбардируют мишень (катод). Под действием ионной бомбардировки происходит распыление мишени. Электроны, эмитированные с катода под действием ионной бомбардировки, попадают в область скрещенных электрического и магнитного полей и оказываются в ловушке. Траектории движения электронов в ловушке близки к циклоидальным. Эффективность ионизации и плотность плазмы в этой области значительно увеличивается. Это приводит к повышению концентрации ионов у поверхности мишени, увеличению интенсивности ионной бомбардировки

13

Источник: https://studfile.net/preview/16563357/