51
программного обеспечения DeltaPsi2 (Horiba Scientific, Japan) с использованием оптических баз данных [135], в расчетах применялось уравнения Френеля для отражения света от плоской границы полубесконечного образца [136].
Компьютерная микротомография монолитных образцов на основе ZrO2 выполнена на рентгеновском микротомографе SkyScan 1172 с компьютерным кластером, трехмерные модели образцов были построены с использованием соответствующего программного обеспечения.
Измерения МУРН и УМУРН образцов ксерогелей, гелей и аэрогелей на основе диоксида циркония были проведены на установках KWS-1 и KWS -3 (FRM-II реактор, Гархинг, Германия). KWS-1 - это классический малоугловой дифрактометр, работающий в геометрии, близкой к точечной. Измерения проводили на длине волны нейтронов λ = 4.48 Å с Δλ/λ=0.1. Использование трех дистанций образец-детектор SD = 2, 8 и 20 м позволяло измерять интенсивность рассеяния нейтронов в диапазоне переданных импульсов 3∙10-3 < q < 0.43 Å-1. Рассеянные нейтроны регистрировали двумерным сцинтилляционным позиционно-чувствительным детектором на основе 6Li (128×128 ячеек с пространственным разрешением 5 × 5 мм2).
Установка KWS-3 является малоугловым дифрактометром высокого разрешения, работающим с использованием фокусирующего тороидального зеркала, что позволяет достигать высокого разрешения по переданным импульсам вплоть до 1×10-4 Å -1 [137]. Измерения проводили на длине волны нейтронов λ = 12.8 Å (Δλ/λ =0.2). Использование двух дистанций образец-детектор SD = 1 и 10 м позволяло измерять интенсивность рассеяния нейтронов в диапазоне переданных импульсов 4∙10-4 < q < 1.4∙10 -2 Å-1. Рассеянные нейтроны регистрировали двумерным сцинтилляционным позиционночувствительным детектором на основе 6Li (активная зона = 8.7 cm с пространственным разрешением 0.36 × 0.39 мм2).
52
Образцы размолотых стеклообразных сухих гелей помещали в кварцевую кювету толщиной 1 мм (KWS-1) или зажимали между двумя кварцевыми стеклами (KWS-3). Исходные спектры для каждого интервала по q корректировали с применением стандартной процедуры [138] с учетом рассеяния арматурой установки и кюветой (кварцевыми стеклами), а также фона зала. Полученные двумерные изотропные спектры были азимутально усреднены и приведены к абсолютным значениям путем нормировки на сечение некогерентного рассеяния плексигласа с учетом эффективности детектора [138] и насыпной плотности для каждого из образцов. Все измерения проводили при комнатной температуре. Для предварительной обработки данных использовали программу QtiKWS [139].
Анализируемая в данной работе интенсивность МУРН и УМУРН Is(q) определялась как:
(3.5)
где I(q) и I0(q) q-распределение рассеянных нейтронов после образца и пучка без образца, соответственно, а T коэффициент трансмиссии прошедших через образец нейтронов:
T = |
I(0) |
= exp(−Σtot L) |
|
I0 (0) |
|||
|
(3.6) |
где Σ = σs +σa интегральное сечение, включающее ядерное рассеяние σs и поглощение σa; L толщина образца.
Измеренные значения интенсивности МУРН и УМУРН связаны с законом
рассеяния S(q) следующим соотношением: |
|
|
|
|
Is (q)= I0 |
L |
∫ |
F(q −q1 )S(q)dq1 |
(3.7) |
|
|
|
||
где F(q) − функция разрешения установки, которая аппроксимировалась функцией Гаусса
[140].
Дополнительные измерения УМУРН были проведены на двухкристальном дифрактометре высокого разрешения MAUD (LVR-15 reactor, Prague, Czech Republic) [141]. Дифрактометр MAUD, в отличие от обычных двухкристальных дифрактометров, оборудован упруго изогнутым Si кристалл-анализатором, который позволяет без поворота получить всю кривую рассеяния на однокоординатном позиционно-чувствительном детекторе. Диапазон переданных импульсов 2∙10-4 < q < 2∙10-2 Å-1.
Использование комплекса методов ультрамалоуглового и малоуглового рассеяния нейтронов позволило получить полную картину рассеяния образцами на основе диоксида
53
циркония в диапазоне переданных импульсов 2∙10-4 < q < 0.43 Å-1, что соответствует анализу мезоструктуры в интервале характерных размеров от 10 ангстрем до нескольких микрон.
Измерения МУРР были проведены на спектрометре Molecular Metrology SAXS System (Institute of Macromolecular Compounds, Prague, Czech Republic),
функционирующим в аксиальной геометрии и использующим генератор микрофокусного рентгеновского излучения CuKα (λ = 0.154 нм) Osmic MicroMax 002, работающий на 45 кВ и 0.66 мА (30 Вт). Спектрометр оснащен 2-х координатным газонаполненным детектором с диаметром активной области 20 см (1024×1024 пикселей с размером пикселя 0.2×0.2 mm2, Gabriel design). Использование расстояния образец-детектор 418 мм позволяло измерять интенсивность рассеяния рентгеновских лучей в диапазоне переданных импульсов 0.35 < q < 1.1 Ǻ-1. Полученные двумерные изотропные спектры были азимутально усреднены с учетом эффективности детектора. Все измерения проводили в вакууме при комнатной температуре.
3.9.3. Метод малоуглового рассеяния рентгеновских лучей в скользящей геометрии
(GISAXS)
Измерения были проведены на линии ID10 (ESRF, Гренобль, Франция). Монохроматический пучок рентгеновских лучей размером 10×200 мкм с длиной волны λ = 0.56 Å падал на поверхность плёнки под малым скользящим углом αi = 0.15o. Излучение детектировали двумерным позиционно-чувствительным детектором Pilatus 300K.
Для определения толщины и шероховатости синтезированных силикатных пленок был использован метод рефлектометрии рентгеновского излучения, в основе которого лежит эффект полного (или частичного) отражения рентгеновского излучения от границ раздела сред с различной оптической плотностью. Измерения проводили с помощью рентгеновского дифрактометра ДРОН-3М (CuKα =1.54 Å), переоборудованного для решения рефлектометрических задач, с монохроматическим пучком рентгеновского
54
излучения (использовался монокристалл Ge (220)), с угловой расходимостью менее нескольких угловых минут, диапазон измеряемых углов от 2 до 5 градусов, площадь поперечного сечения пучка 0.05×5 мм-2. Обработку данных проводили с помощью программы Motofit, реализующей алгоритм Абеля для расчета коэффициента отражения рентгеновского излучения от тонких пленок [142]. Расчетная модель определялась набором варьируемых параметров: электронной плотностью ρe, средней толщиной слоя d, среднеквадратичным разбросом точек поверхности слоя σ относительно средней линии раздела фаз (σ характеризует шероховатость поверхности). Методика обработки рефлектометрических данных заключалась в подгонке параметров модели, описывающей исследуемый образец, с последующим вычислением зависимости R(q), т.е. сводилась к восстановлению профиля электронной плотности ρe по толщине пленки z.
Для определения профилей концентраций ядер различных элементов по глубине образцов пленок использовали метод спектрометрии RBS ионов +4He. Измерения проводили на ускорителе заряженных частиц ЭГ-5 (ОИЯИ, Дубна), регистрацию обратно рассеянных ионов осуществляли под углом 170° поверхностно-барьерным детектором с энергетическим разрешением 20 кэВ.
Исследование каталитической активности кремнезолей, содержащих платину и палладий, и углеродсодержащих композитов на их основе проводили с помощью метода циклической вольтамперометрии. Измерения проводили с использованием потенциостата P-8S в трехэлектродной ячейке при скорости развертки потенциала 100 мВ/с в интервале потенциалов 0÷1200 мВ в 1М растворе H2SO4, в качестве электрода сравнения использовали серебряный электрод, вспомогательным электродом служила платиновая проволока. Перевод электрического сигнала в цифровой осуществляли в программе PsPack на персональном компьютере.
Приготовление электродов. Образцы силикатных золей, содержащих Pt и Pd, наносили на углеродную бумагу (Toray TGPH 280 мкм) размером 5×1 см (каталитическая поверхность 1×3 см), с помощью мерной пипетки (объем исходного золя 0,07 мл), сушили над электроплиткой при температуре 70°С до полного высыхания и фиксировали при температуре 130°С в течение 15 минут. Стандарт сравнения, а именно каталитические
55
«чернила», представляющие собой композит на основе катализатора марки E-tek (Pt+C) и раствора смолы «Nafion» (фирма DuPont, марка DE 1020, 10% водная дисперсия) готовили согласно опубликованной ранее методике [143]. Композит на основе гелей, полученных из кремнезолей, содержащих Pt/Pd, и углеродного компонента (побочная фракция из углеродных волокон и нанотрубок при производстве фуллеренов, ПИЯФ НИЦ КИ), готовили также согласно вышеуказанной методике, но вместо воды использовали бутанол-1. «Чернила» и композиты наносили на углеродную бумагу (Toray TGPH 280 мкм), каталитическая поверхность составляла 1×3 см.
Таким образом, объектами исследования в данной диссертационной работе являлись золи, гели, ксерогели и аэрогели и пленки, полученные в результате гидролиза и поликонденсации Zr(OC3H7)4 или Si(OC2H5)4, в том числе в присутствии легирующих соединений Pt и Pd. В процессе исследования варьировали условия золь-гель синтеза и соотношение исходных компонентов, условия гомогенизации и сушки. Для изучения физико-химических процессов, протекающих в золь-гель системах, в процессе их перехода из золя в гель и установления зависимостей «состав-структура-свойства» использовали ряд современных взаимодополняющих методов исследования (таблица 3.1).
Таблица 3.1. Сводная таблица объектов и методов исследования
Объект исследования |
Методы исследования |
|
|
Золи и гели на основе |
Феноменологические наблюдения, |
гидратированного ZrO2 и SiO2 |
Спектроскопия УФ и видимой области |
|
|
Ксерогели на основе ZrO2 |
Феноменологические наблюдения, |
|
РЭМ, |
|
Термический анализ, |
|
РФА, |
|
БЭТ, |
|
МУРН и МУРР |
|
|
Сухие гели «циркониевые стекла» |
Феноменологические наблюдения, |
|
РЭМ, |
|
Термический анализ, |
|
Рамановская спектроскопия, |
|
|